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[集成电路]针对集成电路的测试程序优化分析
在产业化生产的今天，测试程序的运行时间直接关系到测试的成本，一般芯片规模越大，所需测试的向量就越多，测试时间也越长。考虑到生产成本，芯片大量生产时，减少整个测试程序的运行时间是降低测试成本的关键（就当今许多最先进的集成电路而言，测试成本已占到总成本的30％ 一40％）。因此，这就需要优化测试程序，使其既有较高的故障覆盖率，又能够快速、高效地测试。优化测试程序时，减少测试时间在这方面将起到重大的作用。 优化直流参数测试程序HiLEVEL公司的ETs77O测试系统每执行一次．set（执行）文件，就需调用一个．tn1
[集成电路]针对集成电路的测试程序优化分析
在产业化生产的今天，测试程序的运行时间直接关系到测试的成本，一般芯片规模越大，所需测试的向量就越多，测试时间也越长。考虑到生产成本，芯片大量生产时，减少整个测试程序的运行时间是降低测试成本的关键（就当今许多最先进的集成电路而言，测试成本已占到总成本的30％ 一40％）。因此，这就需要优化测试程序，使其既有较高的故障覆盖率，又能够快速、高效地测试。优化测试程序时，减少测试时间在这方面将起到重大的作用。 优化直流参数测试程序HiLEVEL公司的ETs77O测试系统每执行一次．set（执行）文件，就需调用一个．tn1
