Enlitech推出全球第一套商业标准化的SPD特性测试分析设备

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光电传感器表征专家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商业标准化的最新型单光子探测器 (SPD, Single Photon Detector) 特性测试分析设备SPD2200。光焱科技整合了所有先进光学与电学系统，提供完整与便利的软件控制接口与分析功能，助力客户加速直接飞行时间（dToF）单光子雪崩二极管（SPAD）产品的开发周期，提升竞争力。

测试分析

SPD2200具备的全光谱性能测试包含：

- 全光谱光谱响应 (SR, Spectral Responsivity)

- 全光谱量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)

- 全光谱光子探测率 (PDP, Photon Detection Probability)

- 暗计数DCR (Dark Count Rate)

- 崩溃电压BDV (Break-Down Voltage)

在不同电压下，SPAD光子探测效率的PDE光谱

SPAD的暗计数与偏压关系图

SPAD暗计数与崩溃电压

SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：

- Jitter

- Afterpulsing probability

- Diffusion tail

- SNR

SPAD的Jitter测量

适用范围

SPD2200适用各种传感器测试分析，包含：

- SPAD

- SPD (Single Photon Detector)

- SiPM (Si PhotoMultiplier)

- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)

- dToF Light Sensor

- LiDAR Sensor

- Wafer Level SPAD